TY  - GEN
T1  - Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) fabricadas por la técnica de erosión iónica
A2  - García Méndez, Manuel,
A2  - e-libro, Corp.
LA  - Spanish
PP  - Monterrey, N.L.
PB  - Universidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica
YR  - 2008
UL  - https://colectivo.uloyola.es/Record/ELB19576
OP  - 271
CN  - Q23 C257 2008
KW  - Ciencia.
KW  - Tecnología.
KW  - Science.
KW  - Technology.
KW  - Artículos electrónicos.
ER  -