TY - GEN T1 - Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos A1 - Rueda P., J. E. A2 - Lasprilla, M. C. A2 - e-libro, Corp. LA - Spanish PP - Pamplona, Colombia PB - Universidad de Pamplona YR - 2006 UL - https://colectivo.uloyola.es/Record/ELB5429 OP - 16 CN - QC173.6 R918 2006 KW - Science. : Physics. KW - Ciencias. : Física. KW - Science. : optics. KW - Ciencias. : óptica. KW - Artículos electrónicos. ER -