TY  - GEN
T1  - Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
A1  - Infante Abreu, Marta Beatriz.
A2  - Delgado Fernández, Mercedes,
A2  - Díaz Batista, Antonio,
LA  - Spanish
PP  - La Habana
PB  - Editorial Universitaria
YR  - 2015
UL  - https://colectivo.uloyola.es/Record/ELB90796
OP  - 142
CN  - T56 I431 2015
SN  - 9789591628671 (e book)
KW  - Industrial engineering.
KW  - Ingeniería industrial.
KW  - Libros electrónicos.
ER  -