Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Martín Alfonso, Juan Antonio.
Otros autores: Sánchez Colina, María,, García Reina, Francisco,, e-libro, Corp.
Formato: eBook
Idioma:Spanish
Fecha de publicación: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
Materias:
Acceso en línea:https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=90024