Infante Abreu, M. B., Delgado Fernández, M., & Díaz Batista, A. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. La Habana: Editorial Universitaria.
Chicago Style CitationInfante Abreu, Marta Beatriz., Mercedes Delgado Fernández, and Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
MLA CitationInfante Abreu, Marta Beatriz., Mercedes Delgado Fernández, and Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.