Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
| Autor principal: | |
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| Otros autores: | , |
| Formato: | Tesis |
| Idioma: | Spanish |
| Fecha de publicación: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=90796 |