Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Autor principal: | Infante Abreu, Marta Beatriz. |
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Otros autores: | Delgado Fernández, Mercedes,, Díaz Batista, Antonio, |
Formato: | Tesis |
Idioma: | Spanish |
Fecha de publicación: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
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Materias: | |
Acceso en línea: | https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=90796 |
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