Infante Abreu, M. B., Delgado Fernández, M., & Díaz Batista, A. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. La Habana: Editorial Universitaria.
Citación estilo ChicagoInfante Abreu, Marta Beatriz., Mercedes Delgado Fernández, and Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
Cita MLAInfante Abreu, Marta Beatriz., Mercedes Delgado Fernández, and Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
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