Applied Logistic Regression / David W. Hosmer

Autor principal: Hosmer, David W
Otros autores: Sturdivant, Rodney X.
Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Edición: 3rd ed.
Publicación: New York : Wiley, 2013
Descripción física: XVI, 500 p. ; 24 cm
Clasificación CDU: 519.233.5
* 519.2
Edición: 3rd ed.
Tipo de contenido: Texto (visual)
Tipo de medio: sin mediación
Tipo de soporte: volumen
Colección: Wiley series in probability and statistics. Texts and reference section
Materias:
Cursos: Máster Universitario en Métodos de Investigación en Ciencias Económicas y Empresariales - Curso 1- Técnicas de Análisis Cualitativo y Cuantitativo
ISBN: 9780470582473 (cloth)

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