Adhesion aspects in MEMS/NEMS /

Detalles Bibliográficos
Otros autores: Kim, Seong H., Dugger, M. T., Mittal, K. L., 1945-
Formato: eBook
Idioma:English
Fecha de publicación: Leiden [Netherlands] ; Boston : VSP, 2010.
Materias:
Acceso en línea:https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=145483
Tabla de Contenidos:
  • pt. 1. Understanding through continuum theory
  • pt. 2. Computer simulation of interfaces
  • pt. 3. Adhesion and friction measurements
  • pt. 4. Adhesion in practical applications
  • pt. 5. Adhesion mitigation strategies.