Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) fabricadas por la técnica de erosión iónica
Otros autores: | García Méndez, Manuel,, e-libro, Corp. |
---|---|
Formato: | Analítica |
Idioma: | Spanish |
Fecha de publicación: |
[Monterrey, N.L.] :
Universidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica,
2008.
|
Materias: | |
Acceso en línea: | https://recursos.uloyola.es/login?url=https://accedys.uloyola.es:8443/accedix0/sitios/ebook.php?id=19576 |
Ejemplares similares
-
Caracterización de películas delgadas de AlN fabricadas por la técnica de erosión iónica II propiedades ópticas y cálculos teóricos /
Fecha de publicación: (2009) -
Confinamiento de luz en escalas de sublongitud de onda análisis teórico experimental /
por: Martínez Hernández, Carlos.
Fecha de publicación: (2008) -
Cinética de biodegradación de mezclas BTEoX-EMTB por medio de un proceso de bioaumentación
Fecha de publicación: (2008) -
Determinación de la isla de calor urbano en Ciudad Juárez mediante programa de cómputo
Fecha de publicación: (2008) -
De la genética de la mosca a la salud humana
por: Rincón Limas, Diego E.
Fecha de publicación: (2009)