Statistical regression with measurement error / Chi-Lun Cheng, John W. Van Ness

Autor principal: Cheng, Chi-Lun
Otros autores: Van Ness, John W
Formato: Libro
Publicación: New York : Oxford University Press, 1999London [etc.] : Arnold, 1999
Descripción física: XIV, 262 p. ; 23 cm
Clasificación CDU: * 519.2
519.2
Colección: Kendall's library of statistics 6
Materias:
ISBN: 0340549378
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